Загрузка...

System-on-chip test architectures: nanometer design for testability

Библиографические подробности
Главный автор: Wang, Laung-Terng (ed. by)
Другие авторы: Stround, Charles E. Touba, Nur A.
Формат: Printed Book
Язык:English
Опубликовано: Boston Morgan Kaufmann 2008
Предметы:
Описание
Примечание:
Объем:xxxiii, 856p.
ISBN:9780123739735