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System-on-chip test architectures: nanometer design for testability

書誌詳細
第一著者: Wang, Laung-Terng (ed. by)
その他の著者: Stround, Charles E. Touba, Nur A.
フォーマット: Printed Book
言語:English
出版事項: Boston Morgan Kaufmann 2008
主題:
その他の書誌記述
記述事項:
物理的記述:xxxiii, 856p.
ISBN:9780123739735