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System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
| Autore principale: | |
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| Altri autori: | |
| Natura: | Printed Book |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
Boston
Morgan Kaufmann
2008
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| Soggetti: |
| Descrizione del documento: | |
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| Descrizione fisica: | xxxiii, 856p. |
| ISBN: | 9780123739735 |