Učitavanje...
System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
| Glavni autor: | |
|---|---|
| Daljnji autori: | |
| Format: | Printed Book |
| Jezik: | English |
| Izdano: |
Boston
Morgan Kaufmann
2008
|
| Teme: |
| Opis djela: | |
|---|---|
| Opis: | xxxiii, 856p. |
| ISBN: | 9780123739735 |