Učitavanje...

System-on-chip test architectures: nanometer design for testability

Bibliografski detalji
Glavni autor: Wang, Laung-Terng (ed. by)
Daljnji autori: Stround, Charles E. Touba, Nur A.
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: Boston Morgan Kaufmann 2008
Teme:
Opis
Opis djela:
Opis:xxxiii, 856p.
ISBN:9780123739735