טוען...
System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| מחברים אחרים: | |
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Boston
Morgan Kaufmann
2008
|
| נושאים: |
| תאור פריט: | |
|---|---|
| תיאור פיזי: | xxxiii, 856p. |
| ISBN: | 9780123739735 |