System-on-chip test architectures: nanometer design for testability

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Wang, Laung-Terng (ed. by)
Outros autores: Stround, Charles E. Touba, Nur A.
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado: Boston Morgan Kaufmann 2008
Subjects:
Systems on a chip-Testing > Integrated circuits- very large scale integration- Testing
Descripción
descrición da copia:
Descrición Física:xxxiii, 856p.
ISBN:9780123739735

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