Lataa...
System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Muut tekijät: | |
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
Boston
Morgan Kaufmann
2008
|
| Aiheet: |
| Huomautukset: | |
|---|---|
| Ulkoasu: | xxxiii, 856p. |
| ISBN: | 9780123739735 |