Loading...
System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Andre forfattere: | |
| Format: | Printed Book |
| Sprog: | English |
| Udgivet: |
Boston
Morgan Kaufmann
2008
|
| Fag: |
| Emne beskrivelse: | |
|---|---|
| Fysisk beskrivelse: | xxxiii, 856p. |
| ISBN: | 9780123739735 |