Wordt geladen...

Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Foster, A.
Andere auteurs: Hofer, W.
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: New York Springer 2006
Onderwerpen:
Omschrijving
Beschrijving item:
Fysieke beschrijving:xiv, 281p
ISBN:9780387400907