Wordt geladen...
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Andere auteurs: | |
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
New York
Springer
2006
|
| Onderwerpen: |
| Beschrijving item: | |
|---|---|
| Fysieke beschrijving: | xiv, 281p |
| ISBN: | 9780387400907 |