Lanean...
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| Egile nagusia: | |
|---|---|
| Beste egile batzuk: | |
| Formatua: | Printed Book |
| Hizkuntza: | English |
| Argitaratua: |
New York
Springer
2006
|
| Gaiak: |
| Alearen deskribapena: | |
|---|---|
| Deskribapen fisikoa: | xiv, 281p |
| ISBN: | 9780387400907 |