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Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
New York
Springer
2007
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| Schlagworte: |
| Beschreibung: | |
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| Beschreibung: | xx, 980p. |
| ISBN: | 9780387286679 |