Đang tải...

Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Rupa R. Pai
Tác giả khác: Sudha Kartha, C.
Định dạng: Printed Book
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Kochi Department of Physics, CUSAT 2004
Những chủ đề:

UL

Chi tiết quỹ từ UL
Số hiệu: 539.216.2 RUP
Sao chép Trạng thái trực tiếp không khả dụng