Yüklüyor......
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
Yazar: | |
---|---|
Diğer Yazarlar: | |
Materyal Türü: | Printed Book |
Dil: | English |
Baskı/Yayın Bilgisi: |
Kochi
Department of Physics, CUSAT
2004
|
Konular: |
UL
Yer Numarası: |
539.216.2 RUP |
---|---|
Kopya Bilgisi | Konumu erişilebilir değil. |