Yüklüyor......

Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Rupa R. Pai
Diğer Yazarlar: Sudha Kartha, C.
Materyal Türü: Printed Book
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Kochi Department of Physics, CUSAT 2004
Konular:

UL

Detaylı Erişim Bilgileri UL
Yer Numarası: 539.216.2 RUP
Kopya Bilgisi Konumu erişilebilir değil.