Ładuje się......
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
| 1. autor: | |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | |
| Format: | Printed Book |
| Język: | English |
| Wydane: |
Kochi
Department of Physics, CUSAT
2004
|
| Hasła przedmiotowe: |
UL
| Sygnatura: |
539.216.2 RUP |
|---|---|
| Egzemplarz | Możliwość dostępu nieznana |