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Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
| Autore principale: | |
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| Altri autori: | |
| Natura: | Printed Book |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
Kochi
Department of Physics, CUSAT
2004
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| Soggetti: |
UL
| Collocazione: |
539.216.2 RUP |
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| Copia | Status in tempo reale non disponibile |