Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements

other_versions_link
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Rupa R. Pai
מחברים אחרים: Sudha Kartha, C.
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Kochi Department of Physics, CUSAT 2004
נושאים:
Semiconducting thin films

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום: 539.216.2 RUP
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים