Lataa...
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Muut tekijät: | |
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
Kochi
Department of Physics, CUSAT
2004
|
| Aiheet: |
UL
| Hyllypaikka: |
539.216.2 RUP |
|---|---|
| Nide | Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa |