Načítá se...
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Médium: | Printed Book |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Kochi
Department of Physics, CUSAT
2004
|
| Témata: |
UL
| Signatura: |
539.216.2 RUP |
|---|---|
| Jednotka | Neznámá aktuální dostupnost |