লোডিং...

Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Rupa R. Pai
অন্যান্য লেখক: Sudha Kartha, C.
বিন্যাস: Printed Book
ভাষা:English
প্রকাশিত: Kochi Department of Physics, CUSAT 2004
বিষয়গুলি:

UL

হোল্ডিংসের বিবরণ UL
ডাক সংখ্যা: 539.216.2 RUP
প্রতিলিপি বর্তমান অবস্থা অনুপলব্ধ