লোডিং...
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
| প্রধান লেখক: | |
|---|---|
| অন্যান্য লেখক: | |
| বিন্যাস: | Printed Book |
| ভাষা: | English |
| প্রকাশিত: |
Kochi
Department of Physics, CUSAT
2004
|
| বিষয়গুলি: |
Search Result 1