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Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements

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Dettagli Bibliografici
Autore principale:	Rupa R. Pai
Altri autori:	Sudha Kartha, C.
Natura:	Printed Book
Lingua:	English
Pubblicazione:	Kochi Department of Physics, CUSAT 2004
Soggetti:	Semiconducting thin films

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