Φορτώνει......
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | Printed Book |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Kochi
Department of Physics, CUSAT
2004
|
| Θέματα: |