Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements

other_versions_link
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Rupa R. Pai
Andere auteurs: Sudha Kartha, C.
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Kochi Department of Physics, CUSAT 2004
Onderwerpen:
Semiconducting thin films

UL

Exemplaargegevens van UL
Plaatsingsnummer: 539.216.2 RUP
Kopie Status is onbeschikbaar

Gelijkaardige items