Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements

other_versions_link
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Rupa R. Pai
مؤلفون آخرون: Sudha Kartha, C.
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: Kochi Department of Physics, CUSAT 2004
الموضوعات:
Semiconducting thin films

UL

تفاصيل المقتنيات من UL
رقم الطلب: 539.216.2 RUP
النسخة الحالة المباشرة غير متاحة

مواد مشابهة