Φορτώνει......
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | Printed Book |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Kochi
Department of Physics, CUSAT
2004
|
| Θέματα: |
| Περιγραφή τεκμηρίου: | Thesis (Ph.D), CUSAT, 2004 |
|---|---|
| Φυσική περιγραφή: | xviii, 182p. |