Načítá se...
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Médium: | Printed Book |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Kochi
Department of Physics, CUSAT
2004
|
| Témata: |
| Popis jednotky: | Thesis (Ph.D), CUSAT, 2004 |
|---|---|
| Fyzický popis: | xviii, 182p. |