Loading...
VLSI test principles and architectures: design for testability
Hovedforfatter: | Wang, laung-Terng [ed.] (ed. by) |
---|---|
Andre forfattere: | Cheng-Wu [ed.], Xiaoqing Wen [ed.] |
Format: | Printed Book |
Sprog: | English |
Udgivet: |
Amsterdam
Elsevier
2006
|
Serier: | (Morgan Kaufmann series in systems on silicon)
|
Fag: |
Lignende værker
-
VLSI handbook
af: Giacomo, Joseph Di, Ed
Udgivet: (1989) -
Basic VLSI design
af: Pucknell,Douglas A
Udgivet: (2008) -
VLSI design
af: Kishore, Lal K
Udgivet: (2011) -
System-on-chip test architectures: nanometer design for testability
af: Wang, Laung-Terng
Udgivet: (2008) -
VLSI technology
af: Sze, S.M
Udgivet: (2005)