Ładuje się......

Stochastic models in reliability /

Opis bibliograficzny
1. autor: Aven, T.
Kolejni autorzy: Aven, T.; Jensen, Uwe
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New York : Springer, c1999.
Hasła przedmiotowe:

MAT

Szczegóły zapisu MAT
Sygnatura: 519.248 AVE
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana