Wordt geladen...

Stochastic models in reliability /

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Aven, T.
Andere auteurs: Aven, T.; Jensen, Uwe
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: New York : Springer, c1999.
Onderwerpen:

MAT

Exemplaargegevens van MAT
Plaatsingsnummer: 519.248 AVE
Kopie Status is onbeschikbaar