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Stochastic models in reliability /

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Aven, T.
Weitere Verfasser: Aven, T.; Jensen, Uwe
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York : Springer, c1999.
Schlagworte:

MAT

Bestandesangaben von MAT
Signatur: 519.248 AVE
Exemplar Live-Status nicht verfügbar