Načítá se...

Stochastic models in reliability /

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Aven, T.
Další autoři: Aven, T.; Jensen, Uwe
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: New York : Springer, c1999.
Témata:

MAT

Informace o exemplářích z: MAT
Signatura: 519.248 AVE
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost