Načítá se...
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconductor thin films using photothermal deflection spectroscopy
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Médium: | Printed Book |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Cochin:
Cochin University of Science and Techonology,
2004.
|
| Témata: |
PHY
| Signatura: |
PH. D |
|---|---|
| Jednotka | Neznámá aktuální dostupnost |