Carregant...
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconductor thin films using photothermal deflection spectroscopy
| Autor principal: | |
|---|---|
| Altres autors: | |
| Format: | Printed Book |
| Idioma: | English |
| Publicat: |
Cochin:
Cochin University of Science and Techonology,
2004.
|
| Matèries: |
PHY
| Signatura: |
PH. D |
|---|---|
| Còpia | Comprovació en temps real no disponible |