Lataa...
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Muut tekijät: | |
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
Cochin:
Cochin University of Science and Technology,
2004.
|
| Aiheet: |