Wordt geladen...
The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Andere auteurs: | |
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
New York:
Academic Press,
1990
|
| Reeks: | Techniques of physics;
13 |
| Onderwerpen: |