Lanean...
The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
| Egile nagusia: | |
|---|---|
| Beste egile batzuk: | |
| Formatua: | Printed Book |
| Hizkuntza: | English |
| Argitaratua: |
New York:
Academic Press,
1990
|
| Saila: | Techniques of physics;
13 |
| Gaiak: |
PHY
| Sailkapena: |
621.381/52 ORT |
|---|---|
| Alea | Egoera zuzenean ez dago erabilgarri |