Načítá se...
The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Médium: | Printed Book |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
New York:
Academic Press,
1990
|
| Edice: | Techniques of physics;
13 |
| Témata: |
PHY
| Signatura: |
621.381/52 ORT |
|---|---|
| Jednotka | Neznámá aktuální dostupnost |