Ładuje się......

Defects in semiconductors II : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A. /

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Mahajan, Subhash., ed, Corbett, James W., ed
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New York : North-Holland, c1983.
Seria:Materials research society symposia proceedings;
Hasła przedmiotowe:
Opis
Opis fizyczny:xv, 582 p. : ill. ; 24 cm.
ISBN:0444008128
ISSN:v. 14