Principles of semiconductor network testing /

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Afshar, Amir
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: Boston : Butterworth-Heinemann, c1995.
الموضوعات:
Integrated circuits--Testing. > Semiconductors--Testing.
الوصف
وصف مادي:xiv, 213 p. : ill. ; 25 cm.
ردمك:0750694726

مواد مشابهة