载入...

Multiple-beam interference microscopy of metals,

书目详细资料
主要作者: Tolansky, S.
格式: Printed Book
语言:English
出版: London, Academic Press, 1970.
主题:

PHY

持有资料详情 PHY
索引号: 669.9/5/0282 TOL
复印件 Live Status Unavailable