Lataa...
Ellipsometry: proceedings of the third international conference on wllipsometry
| Muut tekijät: | Bashara, N. M., ed, Azzam, R. M. A., ed |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
Amsterdam
North-Holland
1976
|
| Aiheet: |
Samankaltaisia teoksia
-
Ellipsometry at the nanoscale/
Julkaistu: (2012) -
Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons
Tekijä: Schubert, Mathias
Julkaistu: (2004) - Spectroscopic ellipsometry study of barrier width effect in self-organized InGaAs/GaAsQDs laser diodes /
-
Ellipsometry and polarized light
Tekijä: Azzam, R M A
Julkaistu: (1977) -
Characterization of CdS based multilayer thin films useful for photovoltaic device fabrication using different techniques with emphasis on ellipsometry
Tekijä: Sunny Mathew
Julkaistu: (1994)