Đang tải...
Ellipsometry: proceedings of the third international conference on wllipsometry
Tác giả khác: | Bashara, N. M., ed, Azzam, R. M. A., ed |
---|---|
Định dạng: | Printed Book |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Amsterdam
North-Holland
1976
|
Những chủ đề: |
Những quyển sách tương tự
-
Ellipsometry at the nanoscale/
Được phát hành: (2012) -
Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures: Phonons, plasmons, and polaritons
Bằng: Schubert, Mathias
Được phát hành: (2004) - Spectroscopic ellipsometry study of barrier width effect in self-organized InGaAs/GaAsQDs laser diodes /
-
Ellipsometry and polarized light
Bằng: Azzam, R M A
Được phát hành: (1977) -
Characterization of CdS based multilayer thin films useful for photovoltaic device fabrication using different techniques with emphasis on ellipsometry
Bằng: Sunny Mathew
Được phát hành: (1994)