Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications /

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Murr, Lawrence Eugene
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: New York : Marcel Dekker, c1982.
Reeks:Optical engineering (Marcel Dekker, Inc.) ; v. 1.
Onderwerpen:
Electron microscopy > Field ion microscopy > Microprobe analysis

Gelijkaardige items

Gelijkaardige items