Yüklüyor......
Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications /
| Yazar: | |
|---|---|
| Materyal Türü: | Printed Book |
| Dil: | English |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
New York :
Marcel Dekker,
c1982.
|
| Seri Bilgileri: | Optical engineering (Marcel Dekker, Inc.) ;
v. 1. |
| Konular: |
PHY
| Yer Numarası: |
502/.8/25 MUR 502/.8/25 MUR;1 |
|---|---|
| Kopya Bilgisi | Konumu erişilebilir değil. |
| Kopya Bilgisi | Konumu erişilebilir değil. |