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Advances in x-ray diffractometry and x-ray spectrography: a volume of fifteen selected reprints from philips laboratories Irvington-on Hudson, New York, USA

Detalles Bibliográficos
Outros autores: Parrish, william., ed
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado: Eindhoven Centrex Publishing Cp. 1962
Subjects:

PHY

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Número de Clasificación: 548.83 PAR
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