Загрузка...
Advances in x-ray diffractometry and x-ray spectrography: a volume of fifteen selected reprints from philips laboratories Irvington-on Hudson, New York, USA
| Другие авторы: | Parrish, william., ed |
|---|---|
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
Eindhoven
Centrex Publishing Cp.
1962
|
| Предметы: |
Схожие документы
-
X-ray optics and X-ray microanalysis.
Опубликовано: (1963) -
APPLIED X-RAYS
по: CLARK,GEORGE.L
Опубликовано: (1955) -
Applied X-rays.
по: Clark, George L.
Опубликовано: (1955) -
Applied x-rays
по: Clark, George L
Опубликовано: (1955) -
THE ENCYCLOPEDIA OF X - RAYS AND GAMMA RAYS
Опубликовано: (1963)