Lanean...

Advances in x-ray diffractometry and x-ray spectrography: a volume of fifteen selected reprints from philips laboratories Irvington-on Hudson, New York, USA

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Parrish, william., ed
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: Eindhoven Centrex Publishing Cp. 1962
Gaiak:

Antzeko izenburuak