Načítá se...
Advances in x-ray diffractometry and x-ray spectrography: a volume of fifteen selected reprints from philips laboratories Irvington-on Hudson, New York, USA
| Další autoři: | Parrish, william., ed |
|---|---|
| Médium: | Printed Book |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Eindhoven
Centrex Publishing Cp.
1962
|
| Témata: |
Podobné jednotky
-
X-ray optics and X-ray microanalysis.
Vydáno: (1963) -
APPLIED X-RAYS
Autor: CLARK,GEORGE.L
Vydáno: (1955) -
Applied X-rays.
Autor: Clark, George L.
Vydáno: (1955) -
Applied x-rays
Autor: Clark, George L
Vydáno: (1955) -
THE ENCYCLOPEDIA OF X - RAYS AND GAMMA RAYS
Vydáno: (1963)