Advances in x-ray diffractometry and x-ray spectrography: a volume of fifteen selected reprints from philips laboratories Irvington-on Hudson, New York, USA

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Parrish, william., ed
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Eindhoven Centrex Publishing Cp. 1962
נושאים:
X-ray diffractometry > X-ray spectrography

PHY

פרטי מלאי ספרים מ PHY
סימן המיקום: 548.83 PAR
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים