Advances in x-ray diffractometry and x-ray spectrography: a volume of fifteen selected reprints from philips laboratories Irvington-on Hudson, New York, USA

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: Parrish, william., ed
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: Eindhoven Centrex Publishing Cp. 1962
الموضوعات:
X-ray diffractometry > X-ray spectrography

PHY

تفاصيل المقتنيات من PHY
رقم الطلب: 548.83 PAR
النسخة الحالة المباشرة غير متاحة

مواد مشابهة