Advances in x-ray diffractometry and x-ray spectrography: a volume of fifteen selected reprints from philips laboratories Irvington-on Hudson, New York, USA

Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Parrish, william., ed
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Eindhoven Centrex Publishing Cp. 1962
Onderwerpen:
X-ray diffractometry > X-ray spectrography
Omschrijving
Geen beschrijving beschikbaar.

Gelijkaardige items